报告题目：新型二维二氧化硅薄膜
报 告 人： 钟建强
报告时间：2016年9月20日（周二）上午10点
报告地点：物理科技楼237
报告摘要：
硅石（二氧化硅）的三维网状结构使其具有优良的物理和化学性能，并广泛应于微电子，光子以及催化剂等各种现代科技中。然而由于其复杂的结构（比如，沸石），极大的限制了利用表面分析技术（光电子能谱技术，扫描隧道电子显微镜技术，红外光谱技术等）对其界面结构和性能关系的进一步研究。最近报道的二维二氧化硅薄膜为我们探索界面结构和性能关系提供了一个极佳的平台。在这次报告中，我会介绍这种新型二维二氧化硅薄膜的制备，界面特性，以及其在模型催化和气体分离等方面的应用。
个人简介：
钟建强，博士，2010年本科毕业于苏州大学物理系与新加坡国立大学（National University of Singapore）物理系（联培）。2014年在新加坡国立大学物理系取得博士学位，从事有机小分子异质结界面的能带理论研究，博士期间获得President’s Graduate Fellowship。2015至今，在美国布鲁克海文国家实验室（Brookhaven National Laboratory）从事新型二维二氧化硅薄膜材料的研究。钟建强博士主要利用光电子能谱技术和扫描隧道电子显微镜技术，在分子电子学，纳米催化剂以及新型二维材料领域探索不同材料的结构-性能关系，目前已在国际期刊上发表学术论文29篇。